各师生用户：

为进一步推进我校仪器设备全面开放共享，提高仪器设备使用效率，满足学校师生的科研工作要求，教学实验中心本期开展FE-SEM的样品制备实务培训。

具体安排如下:

时间安排：2024年6月26日星期三上午09⁚30-10:00

地点：腾讯会议

会议号：378 566 643（密码：123456；限制人数100人）

联系人及电话：刘老师，13266580133

一、FE-SEM简介：

1.基本信息：

★ 厂家：日本JEOL

★ 型号：JSM-7610F Plus

2.技术特点简介：

JSM-7610Fplus型号的FE-SEM 配备半浸没式物镜，能将电子束收缩的很细，实现低加速电压下的高分辨成像；采用GENTLEBEAM™模式，通过给样品加以偏压使得电子束在到达样品前减速的功能来实现低加速电压下的有效观察和分析；可通过r-filter选择样品上产生的二次电子和背散射电子信号进行检测。

3.主要功能特点：

通过扫描电子显微镜材料，可以进行材料表面形貌的观察；材料的断口形貌的观察，了解材料的破坏特征、材料内部的结构及缺陷；通过X射线能谱(EDS)和X射线波谱成分分析等电子探针附件，可掌握材料微区化学成分分析。

二、培训内容：

FE-SEM简介、样品的要求、样品的种类、制样注意事项、各类样品制样实务。

三、线上培训二维码